深セン市維創興電子科技有限公司
>製品>X蛍光分光分析器iEDX-150 WT(めっき層厚測定器)
会社情報
  • 取引レベル
    VIP会員
  • 連絡先
  • 電話番号
    18575526416
  • アドレス
    深セン市宝安区沙井新和大道麗城工業団地Y棟
今すぐ連絡する
X蛍光分光分析器iEDX-150 WT(めっき層厚測定器)
X蛍光分光分析器iEDX-150 WT(めっき層厚測定器)
製品の詳細

X蛍光分光分析器iEDX-150 WT(めっき層厚測定器)

詳細


一、製品の概要

製品タイプ:X蛍光分光器

製品名: めっき層厚計(オプションめっき液検査、RoHS検査、合金分析機能)

タイプ 番号: iEDX-150WT

産出 商: 韓国ISP社

二、製品優勢

1. めっき層の検査、最大めっき層の検査は達成することができます5階です。

2.薄めっき層の分析が正確で、1 uin(0.025 um)未満のめっき層を正確に分析することができ、0.2-0.5 uinの金層を正確に分析することができる。

3. オプションの同時実行が可能RoHS検出機能、RoHS指令中の鉛、水銀、カドミウム、クロム、バリウム、アンチモン、セレン、ヒ素などの重金属を正確に試験し、ハロゲン指令中の臭素、塩素などの有害元素を試験する。

4. 同時にオプションめっき液の薬水分析機能を行うことができ、1分で薬水内の金、ニッケル、銅などの薬水含有量を分析することができ、分析精度は0.01ppm,

5.オプション合金成分の分析機能を同時に行うことができる。

6.スロット式超大移動可能全自動サンプルプラットフォーム610*525(縦*幅)、サンプル移動距離112*2 X 5 mm(縦*幅*高さ);配線板業界向けに開発されている。

7.レーザー位置決め、連続自動多点プログラム測定ができる、

8.マルチコリメータシステム、シングルコリメータ/6コリメータ/7コリメータを選択することができる。

9.固体、液体、粉末状態を検出できる材料、

10.運行及び維持コストが低く、消耗品がなく、使用環境に対する相対的な要求が低い、

11.未知標本スキャン、標本なし定性、半定量分析を行うことができる、

12.操作が簡単で、学びやすく、高品質、高性能、高安定性、迅速な検出結果(20-40秒)、

13.標準的にドイツAmptekSI-Pin検出器を配置し、高精度シリコンドリフトSDD検出器を選択し、試験精度を保証する。

14.ソフトウェアは無標本分析をサポートしている。

15.従来のめっき層に比べて、電源を入れるには予熱が必要なく、測定することができ、測定後は直接電源を切ることができ、電力を節約し、重要部品(X線管、高圧など)の消費を減少し、そして待ち時間を減少した。
三、製品配置及び技術指標の説明


標準

オプション

X線管

高安定性X線管、長寿命(動作時間>15000時間)。

MO(モリブデン)ターゲット、ベリリウム窓、スポットサイズ75 um、油絶縁、空冷式、放射安全電子管遮蔽。

50 kV、1 mA、高圧、電流設定はアプリケーションに最適な性能を提供します。

高安定性マイクロフォーカスX線管、使用寿命(動作時間>15000時間)。

MO(モリブデン)ターゲット、ベリリウム窓、スポットサイズ50 um、油絶縁、空冷式、放射安全電子管遮蔽。

50 kV、1 mA、高圧、電流設定はアプリケーションに最適な性能を提供します。

プラットフォーム

固定プラットフォーム

ソフトウェアプログラムは、ステッピングモータ駆動X−Y軸移動大サンプルプラットフォームを制御する。レーザー位置決め、簡易荷重の最大荷重量は5 kgで、制御プログラムは持続性自動測定を行う。

プラットフォームサイズ:610*525 mm(縦*幅*高さ)

サンプル移動距離:112*2 X 5 mm(X*Y*Z)

コリメータ

シングルコリメータシステム0.2/0.3 MM選択1つ

0.05/0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4 mmの計7種類のコリメータ規格を選択でき、お客様は最大7種類のコリメータサイズを選択でき、特殊サイズコリメータをカスタマイズすることができる。

プローブ

半導体Si−PIN検出器、分解能159 eV、

高解像度シリコンドリフトSDD検出器は、解像度が125 eVに達することができる.

フィルタ

一次フィルタ:Alフィルタ、自動切り替え

/

サンプル位置決め

サンプルロック、簡易荷重、レーザー位置決め及び写真撮影機能を表示する

/

ビデオシステム

高解像度CCDカメラ、カラービデオシステム。

観察範囲:3 mmx 3 mm。

倍率:40 X。

/

添付ファイル

コンピュータ、モニタ、プリンタ、キーボード、マウスを含む

/

ソフトウェア

標準的なMulti-Rayめっき分析ソフトウェア

1、ROHS分析ソフトウェアのオプション配置

2、オプション合金分析ソフトウェア

3、選択配合薬水分析ソフトウェア

検出要素範囲

Al (13) ~ U(92)

/

サンプルタイプの解析

液体/固体/粉末

/

四、iEDX-150 WTモデル分光計ソフトウェア機能

1)ソフトウェア応用
-単めっき測定
-線形層測定(例:フィルム測定)
-二重めっき測定
-合金に対してめっき層の厚さと元素分析を同時に行うことができる
-三重めっき測定。
-無電解ニッケルめっき測定
-めっき溶液測定
-吸収モードの適用DIN 50987.1/ISO 3497-A 2

-励磁モードの適用DIN 50987.1/ISO 3497-A 1
-基本パラメータ法はすべての応用分野の測定を満たすことができる

2)ソフトウェアの定格
-多層解析用の自動定格曲線

-標準仕様なしの基本パラメータを使用した計算方法

-標本を使用した多点繰り返し標定

-定格曲線の表示パラメータと自動調整機能

3)ソフトウェア補正機能:
-基点補正(ベースライン下地補正)

・ステンレス鋼、真鍮、青銅などの多材料基点補正

-密度補正

4)ソフトウェア測定機能:
-測定を迅速に開始

-高速測定プロセス

-自動測定条件設定(ライトパイプ電流、フィルター、ROI)

5)自動測定機能(ソフトウェアプラットフォーム)

-同モード反復機能(多点自動検出が可能)

-測定位置の確認(グラフィック表示機能付き)

-測定開始点設定機能(ファイルごとに元のデータを格納)

-測定開始点記憶機能、印刷データ

-回転補正機能

-TSPアプリケーション

-行走査およびグリッド機能

6)スペクトル測定機能

-定性分析機能(KLMマーキング方法)

-エネルギー/チャネル要素あたりのROIカーソル

-スペクトルファイルのダウンロード、削除、保存、比較機能

-スペクトル比較表示機能:二段階表示/重畳表示/減算

-スケール拡張、縮小機能(強度、エネルギー)

7)データ処理機能

-監視統計値:平均値、標準偏差、最大値。

-最小値、測定範囲、N番号、Cp、 Cpk,

-独立曲線は測定結果を表示します。

-カーブ数値、データコントロールを自動的に最適化

8)その他の機能

-システムの自己校正は機器条件と動作環境によって決定される

-独立したオペレーション制御プラットフォーム

-ビデオパラメータ調整

-機器は単一のUSBデータバスを使用して周辺機器と接続されている

-Multi-Ray、Smart-Ray自動出力検出レポート(HTML、Excel)

-モニタ、サンプル画像、曲線などをキャプチャして表示する...。

-データベース・チェッカー

-めっき厚さ測定プログラムによる保護。

9)機器の修理と調整機能

-自動キャリブレーション機能、

−最適化システムは機器条件と操作室環境に依存する、

-自動キャリブレーション中の値の増加、バイアス量、強度、検出器の解像度、反復法はピーク位置、CPS、主X線強度、入力電圧、動作環境。


[戻る]

オンライン照会
  • 連絡先
  • 会社
  • 電話番号
  • Eメール
  • ウィーチャット
  • 認証コード
  • メッセージの内容

Successful operation!

Successful operation!

Successful operation!